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怎樣檢測(cè)整流橋模塊的好壞?

文字:[大][中][小] 手機(jī)頁(yè)面二維碼 二維碼 2023-11-15     瀏覽次數(shù):2034

電阻測(cè)試方法是借助二極管的單向?qū)ㄌ攸c(diǎn),測(cè)試其正方向有電阻讀值與反方向截止無(wú)讀值來(lái)辨別其是否好壞,這套檢測(cè)整流橋模塊的好壞方式是很常用的1種。

測(cè)試工具與對(duì)象:

1臺(tái)正常的數(shù)字萬(wàn)用表與一款待辨別的整流橋模塊。

測(cè)試條件設(shè)定:

數(shù)字萬(wàn)用表打到20K歐姆檔位,紅筆數(shù)字萬(wàn)用表正極,黑筆數(shù)字萬(wàn)用表負(fù)極。

測(cè)試方法與步驟為:

紅筆接整流橋模塊負(fù)極,黑筆各自接2個(gè)交流腳位,若均有讀值顯示則表明負(fù)極與交流間的2顆芯片正常;黑筆接整流橋模塊正極,紅筆各自探測(cè)2個(gè)交流腳位,若均有讀值顯示則表明整流橋模塊正極與交流間的2顆芯片為正常。

測(cè)試結(jié)論總結(jié):

若測(cè)試過(guò)程中結(jié)論反饋如上所述,則表示該整流橋模塊4顆芯片均正常,數(shù)字萬(wàn)用表讀值為該測(cè)試芯片的內(nèi)阻值;若出現(xiàn)非統(tǒng)一的狀況,如數(shù)值為1(無(wú)窮大)則表明整流橋模塊中該顆芯片已經(jīng)毀壞。